Protochips致力于发展用于纳米尺度科学研究的突破性分析工具及产品的研发,将观察仪器和纳米材料处理完美结合,成功的将电子显微镜由一般的成像拍摄功能转变为真正的纳米实验室,实现电镜在各种条件下原位观察样品反应过程和结果。Protochip旗下共包括:ADURO,POSEIDON,C-FLAT,DURASIN四款产品,可以应用于生物学、生物医学、冶金学、材料、电子和半导体、材料表面加工、金属失效分析等领域。
Aduro ™:原位高温分析技术。ProtoChips基于半导体设备和材料开发的创新的专利的Aduro ™技术平台。这个技术集成了例如温控和直接在支持标本上进行电刺激的功能。Aduro ™方法不仅可以进行原位电子显微镜分析,它也易于使用,多功能,稳定,快速,高分辨率。 不同于传统的大型加热原件的加热方式,Aduro ™使用低应力半导体膜产生热量直接作用样品。这能精确地控制样品温度,几乎没有漂移。热质低的陶瓷膜可进行快速温度变化,加热速度可达106次方,温度可达1200℃,热量很好地传递且热膨胀系数极低,使得几秒钟内就能稳定且漂移很小。
Poseidon™:原位液体分析技术。Poseidon™介绍了一种在液态环境中原位电镜观察的新技术。从生物样本到材料科学应用,Poseidon™可提供高分辨率的原生环境中的材料研究。应用包括:活细胞,电池,催化剂,分散剂,凝胶及其他软质材料等。使用E-Chips样本支持技术,Poseidon™可提供非常灵活的在液态环境中原位分析的解决方案。由于没有两个标本是完全相同的,E-Chips也有各种不同芯片孔:不同的窗口几何形状,液体体积,高度,和流动路径,使用时不需要修改实验室硬件。 Poseidon™TEM支架可提供2或3个端口配置。2端口配置允许定量流体通过样品,3端口配置可以直接在尖端引入和混合试剂。Poseidon™系统自带TEM支架,控制流量的注射泵和所需的管材及配件。
C-flat™是用于低温透射电镜的新款多孔碳支持膜。在低温投射电镜分析中,标本的特性影响了数据收集,标本特别是必须干净、平坦的,对电子束透明,并能提供稳定的支持作用。ProtoChips率先推出的先进的半导体制造技术,制造出平整的多孔碳膜,同时也有无定型碳的特性,是生物材料测试理想的标本支持。整个C-FlatTM生产线都是采用这种技术,多孔碳膜技术能有更均匀的冰层分布,颗粒更好的分散和更高质量的数据。DuraSiN™是市场领先的典范技术,支持材料科学的透射电子显微镜(TEM)和x射线显微镜分析。应用材料科学研究,理想的支持标本要对电子束透明,对样品惰性,对样品制备具有很强的耐受力,如自旋铸造,热处理,炉沉积,分散溶剂,酸处理,干燥浸渍和电镀。ProtoChips制造的系列产品就具有对电子束透明、惰性,具有很强耐受力,这些的耐用的、氮化硅膜就是DuraSiN™,它有一系列不同厚度和尺寸的产品,适合不同场合需求。
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